德国BECKHOFF倍福嵌入式电脑
CX5130 配备 Intel Atom® 双核处理器，时钟频率为 1.75 GHz。这使得真正的多核技术在嵌入式 PC 领域成为可能。该系列中的硬件接口的方向和实现方式与现有 CX5000 系列的硬件接口相同。

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集成的测量和测试技术可提升您的竞争优势

我们来自测量和测试技术领域的行业专家可以解释为什么倍福的自动化技术是集成和处理测量任务的理想平台。

效率、灵活性和透明度对于可持续竞争力至关重要。对于生产机器来说，重点是效率和可靠性，而测试台技术则需要接口、传感器技术和执行器方面的灵活性。的测试台需要动态控制系统和精确、校准的测量数据。运营商希望通过新的安全技术、状态监测或能源测量来优化消耗，使其系统面向未来。

凭借我们的系统集成测量和测试技术，我们为您提供一系列模块化的测量硬件和软件产品，用于设计的高性能 DAQ 系统。

与倍福一起在测量和测试技术方面处于先地位：将测量技术集成到自动化平台中，强大的 EtherCAT 测量终端产品组合，具有多种性能等级，多种支持的信号类型、通道号和设计，用于预开发、测试台、在线或末端测量技术的平台，测量技术可与现有控制架构相结合

用于机械制造的系统集成测量技术

机器必须通过提供长期优良生产能力、持续提供有关能源和资源消耗的信息以及易于集成到现有信息结构中来扩展其基本功能。只有这样，才能有效地实施数字商业模式，例如预测性维护或基于使用情况的计费。倍福 I/O 系统的机器集成测量技术使所有这些成为可能：

控制集成测量技术在机械制造中的优势：

具有高测量精度的快速测量技术模块可确保同步信号采集和完整数据访问，从而实现更精确的过程控制和更严格的公差。

与控制系统中的 PLC 库直接集成和信号分析，减少了外部计算机、数据记录器以及额外的同步和连接工作。

所有过程信息和测量信号都可以在控制系统中获得，以便随时进行全面的状态监测。

从标准端子到高精度测量技术模块，您可以找到适合每项测量任务的产品，包括透明的能量和状态信息。

与产品或批次相关的能源数据可以在控制系统中计算并存储在生产数据库中。

基于 PC 的控制通过支持所有现场总线、OPC UA 和物联网技术提供全面的连接。

不同复杂程度的能量测量值可以记录在集成系统中。

用于研究和实验室测试台的系统集成测量技术

随着创新周期的缩短，对测试台的要求也越来越高，以确保产品质量。因此，硬件和软件的灵活性和模块化是必须的。

只有在信号记录中具有高度同步性和最小的测量不确定性的情况下，才能定量和可重复地评估组件的设计更改。测试台的自动化系统必须支持与测试样品和专用测量和测试系统的各种接口，以适应大量传感器，并为自动化测试序列提供全系列的执行器。所有数据都同步记录、可视化并可靠地存储在文件或数据库中，以便进行分析和比较。所有测试参数的集成诊断使您可以专注于测试程序。基于 PC 的控制还为敏捷的、基于仿真的产品开发搭建了一座桥梁：科学工具中的模型可以在测试台上使用，而无需进行调整。

系统集成测量技术在试验台构建中的优势：通过 EtherCAT 和 EtherCAT G 进行高度同步的测量数据采集，IP20 和 IP67 等各种传感器信号的接口，具有长期稳定性的精确测量技术，也可提供校准（出厂、ISO 17025 或 DAkkS 校准），使用 TwinCAT 示波器视图访问所有过程数据以进行可视化和信号分析，通过 TwinCAT 数据库服务器进行灵活的数据库连接，可扩展的驱动技术，从紧凑型伺服电机到高度的运输系统，如XTS和XPlanar

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